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電子顯微形貌觀察與測量
所屬分類
電子電氣行業(yè)檢
產(chǎn)品描述
材料表面的微觀幾何形貌特性在很大程度上影響著它的許多技術性能和使用功能，近年來隨著科技的發(fā)展，對各種材料表面精度也提出了越來越高得要求。
掃描電子顯微鏡是目前常見的用于表面形貌觀察的分析技術。具有高分辨率，較高的放大倍數(shù)；景深效果好，視野大，成像富有立體感，可直接觀察各種試樣凹凸不平表面的細微結構；試樣制備簡單；配有X射線能譜儀裝置，可同時進行形貌觀察和微區(qū)成分分析。
通過掃描電子顯微鏡觀察材料表面形貌，為研究樣品形態(tài)結構提供了便利，有助于監(jiān)控產(chǎn)品質(zhì)量，改善工藝。
觀察的主要內(nèi)容是分析材料的幾何形貌、材料的顆粒度、及顆粒度的分布、物相的結構等。
測試步驟：
對樣品進行表面鍍鉑金，按照標準作業(yè)流程放入掃描電子顯微鏡樣品室中，對客戶要求的測試位置進行放大觀察并測量。
參考標準：
JYT 010-1996 分析型掃描電子顯微鏡方法通則
典型圖片：
上一個
無
下一個
PCB/PCBA失效分析
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